Polianilinin buhar fazı polimerizasyonu yöntemiyle sentezlenmesi, elde edilen polimerin morfolojisine, malzeme yüzeyi, sıcaklık ve elektrik akımının etkisinin incelenmesi

Abstract

Bu çalışmada, anilin monomerinin metallerin yüzeyine biriktirildikten sonra buhar fazında polianiline dönüştürülmesi sağlanmıştır. Buhar fazı polimerizasyon (BFP) işlemini, hem monomer buhar fazında hem de başlatıcı buhar fazında bulunmakta ve polimerizasyon reaksiyonu buhar fazında gerçekleşmektedir. Bu yöntemin avantajı, çeşitli modifikasyonlara elverişli olup, reaksiyon istenildiği anda istenilen basamakta müdahale edilerek durdurulabilmekte ve istenildiğinde tekrar aynı noktadan başlatılabilmekte olması nedeniyle özgün bir polimerizasyon yöntemidir. Bu yöntemde metallerin yüzeyinde gerçekleşirken aynı anda farklı sıcaklık ve voltajlar uygulanarak, sıcaklığın ve metalden geçen voltajın polimer morfolojisine etkileri belirlenmiştir. Hazırlanan polianilinin karakterizasyonu için iletkenlik ölçümleri, taramalı elektron mikroskobu (SEM), fourier dönüşümlü ınfrared spektrofotometre (FTIR), X-Işını fotoelektron spektroskopisi (XPS) analiz teknikleri kullanılmıştır.

In this study, after depositing the metals on the surface of the aniline monomer is provided to be converted to the vapor phase of polyaniline. Vapor phase polymerization (BFP) process, being found in both the initiator and the monomer vapor phase and the vapor phase polymerization reaction is performed in the vapor phase. The advantage of this method is susceptible to numerous modifications, the reaction can be stopped at any moment by interfering in the desired places and desired method is unique because the polymerization can be started again from the same point. In this method, applying different temperatures and voltages are simultaneously realized as metal surfaces, the effects of temperature and the voltage of the metal, polymer morphology is determined. conductivity measurements for the characterization of the prepared polyaniline, scanning electron microscopy (SEM), fourier transform infrared spectrometer (FT-IR), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis techniques were used.